› Effets du vieillissement par fatigue électrothermique sur la compatibilité électromagnétique des convertisseurs DC/DC à base de GAN utilisés en automobile - Mohamed BELGUITH, Electronics and Systems Department, Normandie Univ, UNIROUEN, ESIGELEC, IRSEEM, Saint-Etienne-du Rouvray, National Engineering School of Sousse / Ecole Nationale d'Ingénieurs de Sousse
11:20-11:35 (15min)
› Modélisation CEM d'un Système d'Eclairage Automobile pour une Meilleure Intégration Electronique - Martin Humeau, ESEO - RF-EMC
11:35-11:50 (15min)
› Modélisation des phénomènes de couplage inter-composants dans les filtres : cas des filtres utilisés dans le domaine automobile. - Mohamed Ghjiawad CONGO, ESEO - RF-EMC
11:50-12:05 (15min)
› Unterminated Thevenin blackbox modeling of a DC/AC power converter - Noan Artaud, ONERA, Université de Toulouse [Toulouse], Université de Pau et des Pays de l'Adour/E2S UPPA, Laboratoire SIAME – Fédération IPRA, EA4581
12:05-12:20 (15min)
› Étude et modélisation des performances CEM des câbles pour un véhicule électrique - Mostafa Kamel SMAIL, Laboratoire Génie Électrique et Électronique de Paris (GeePs), Institut Polytechnique des Sciences Avancées (IPSA) - Daniel Jimenez, Laboratoire Génie Électrique et Électronique de Paris (GeePs) - Lionel Pichon, Laboratoire Génie Électrique et Électronique de Paris (GeePs)
14:45-15:00 (15min)
› Validation through measurements of a crosstalk scenario caused by a fast transient phenomenon, modeled in CST Studio Suite and MaxSim - Mohamad HOUSSINI, EDF R&D
15:00-15:15 (15min)
› Évaluation de méthodes de modélisation CEM utilisant des méta modèles - Titouan Torond, SAFRAN Electronics & Defense
15:15-15:30 (15min)
› Utilisation de techniques de Machine Learning pour la définition de règles de routage CEM - Benoit Goral, Thales SIX GTS France
15:30-15:45 (15min)
› Electronic circuit radiated emission scanning and electric near-field probe characterization - Blaise Ravelo, NUIST
16:25-16:40 (15min)
› Modèle de susceptibilité d'une chaîne de composants face à des IEM : 1er pas - Antoine Duguet, Laboratoire de l'intégration, du matériau au système, Thales SIX GTS
16:40-16:55 (15min)
› Comparaison de l'impact d'un brouillage intentionnel sur les communications GSM-R et 5G NR - Papa Boubacar SARR, Laboratoire Électronique Ondes et Signaux pour les Transports
16:55-17:10 (15min)
› Techniques et méthodologie de modélisation des arbres d'alimentation de produits soumis aux exigences TEMPEST - Tristan Péchereau, Thales SIX GTS
17:05-17:25 (20min)
› Amélioration du processus de conception des liaisons série haute vitesse dans les systèmes aéronautiques grâce à l'algorithme d'optimisation SHERPA - Soazig Le Bihan, THALES AVS
17:35-18:00 (25min)
› Caractérisation électromagnétique d'un environnement industriel 4.0 - Thomas Steve NKOLO BEKONO, IEMN, UMR 8520, Univ. Valenciennes, France
17:35-18:00 (25min)
› Nouvelle approche d'indentification des problèmes de CEM/EMI dans l'aéronautique au niveau carte et équipement. - Pierre Amblard, Thales AVS France SAS
17:35-18:00 (25min)
› Caractérisation et modélisation CEM des nouvelles technologies de composants de puissance (GaN). Application : convertisseurs de puissance - Mohamed Foued Guellati, Institut de Recherche en Systèmes Electroniques Embarqués [Saint Etienne du Rouvray]
17:35-18:00 (25min)
› Évaluation du blindage électromagnétique au niveau de la carte apporté par des fibres continues de carbone - Victor Mahaut, Univ. Bordeaux IMS laboratory, Thalès Research & Technology
17:35-18:00 (25min)
› Filtre Actif Haute Fréquence Pour Convertisseurs De Puissance AC/DC - Bertrand REVOL, Safran Tech
17:35-18:00 (25min)
› Gestion du risque électrique : les tensions rail/sol, un indicateur de sécurité en contexte ferroviaire - Juan José MUNOZ, SNCF Réseau
17:35-18:00 (25min)
› Harnais puissance et données pour les systèmes de propulsions hybrides et électriques en aéronautique – nouveaux challenges en CEM - Mackenzie PANDALEON, Safran Electrical & Power
17:35-18:00 (25min)
› Modélisation de nappes surfaciques de courants « Foudre » : S-PEEC formulation analytique et validation expérimentale - Danica Cvetkovic, Laboratoire Génie électrique et électronique de Paris, Systèmes et Applications des Technologies de l'Information et de l'Energie, Safran Tech
17:35-18:00 (25min)
› Modèles fréquentiels forts niveaux pour la prédiction d'impact d'impulsion électromagnétique sur les systèmes - Lucas Kemystetter, Équipe Énergie et Systèmes Embarqués, CEA - Centre de Gramat
17:35-18:00 (25min)
› In-Situ and Contactless Extraction of the Insertion Loss of Switched Mode Power Supply EMC Filter based on Near-Field Scan Measurement - Dennis Wanyoike KAMAU, IRT Saint Exupéry
17:35-18:00 (25min)
› Détection de Défaillances Instantanées et Tardives lors de Test en Susceptibilité Rayonnée en Fonction du Type de Brassage - Quentin JACQUET, XLIM
08:30-08:45 (15min)
› Preliminary investigations of Sample Independence Assessment in Reverberation Chambers - Anyela del Pilar Liseth Aquino Velasquez, Institut National des Sciences Appliquées - Rennes, Valeo
08:45-09:00 (15min)
› Facteur de qualité en chambre réverbérante : biais d'estimation et possible action corrective - Damien QUENSON, Institut d'Électronique et des Technologies du numéRique
09:00-09:15 (15min)